Wir freuen uns, Ihnen unser neuestes Gerät für die Qualitätskontrolle von Leiterplatten vorstellen zu können:

Das FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB ist ein echter Spezialist für die zuverlässige Qualitätskontrolle von Leiterplatten mit Röntgenfluoreszenz. Dank leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor, Mikrofokus-Röhre Ultra und Polykapillaroptik misst das XRF-Gerät mit extrem kleinem Messfleck von 10µm Durchmesser bei sehr hoher Intensität. Dadurch können dünnste Schichten zuverlässig bestimmt werden. Das Gerät erfüllt zudem die IPC-Anforderungen 4552 und 4556 für ENIG und ENEPIG sowie 4553A (Silver) und 4554 (Tin).